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镀层厚度剖析仪简介

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推荐接见

镀层厚度剖析仪又叫涂镀层测量仪、电镀层测试仪、防腐层检测仪、涂镀层测试仪、涂镀层测量仪、油漆测厚仪价钱、油漆层测厚仪、油漆膜厚仪、钢结构油漆层测厚仪、钢板油漆测厚仪、钢管油漆测厚仪、油漆防腐层测厚仪、油罐防腐层测厚仪可无损天丈量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、搪瓷、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:搪瓷、橡胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性下、稳定性好、操纵轻便等特性,是掌握和包管产品质量必不可少的检测仪器,普遍天运用正在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测范畴。

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镀层厚度剖析仪

 

镀层厚度丈量已成为加工工业、外面工程质量检测的主要环节,是产物到达劣等质量标准的需要手腕。为使产物国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明白要求。

 

镀层厚度剖析仪的测量方法重要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差丈量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性丈量法及涡流丈量法等等。这些要领中前五种是有损检测,丈量手腕烦琐,速度缓,多适用于抽样磨练。

X射线和β射线法是无打仗无损丈量,丈量局限较小,X射线法可测极薄镀层、单镀层、合金镀层。β射线法合适镀层和底材原子序号大于3的镀层丈量。电容法仅正在薄导电体的绝缘覆层测厚时接纳。

跟着手艺的日趋前进,特别是近年来引入微机手艺后,X射线镀层厚度剖析仪背微型、智能、多功能、高精度、适用化的方向进了一步。丈量的分辨率已达0.1微米,精度可到达1%,有了大幅度的进步。它适用范围广,量程宽、操纵轻便且价廉,是产业和科研运用最普遍的测厚仪器。

产业X射线镀层厚度剖析仪以其快速、无损、现场丈量等长处,已正在冶金、建材、地质、环保、商检、考古、医学等范畴获得敏捷推行和运用。近几年来X射线荧光仪已正在产业镀层及涂层厚度丈量中运用愈来愈普遍。尽人皆知,产物和金属元件外面镀层或防腐层厚度是取产品质量取机能相干的重要指标。实行注解运用同位素X射线荧光剖析要领,可以或许知足产业镀层和涂层厚度的剖析要求,而且具有无损、在线、轻便快速、可实现自动控制等特性。

 

X射线荧光镀层厚度剖析仪基本原理

X射线荧光就是被剖析样品正在X射线照耀下发出的X射线,它包罗了被剖析样品化学构成的信息,经由过程对X射线荧光的剖析肯定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光剖析仪。由原子物理学的常识,对每一种化学元素的原子来讲,皆有其特定的能级构造,其核外电子皆以其特有的能量正在各自的流动轨道上运转。内层电子正在充足能量的X射线照耀下离开原子的约束,成为自由电子,这时候原子被引发了,处于激发态。此时,其他的外层电子便会弥补那一空位,即所谓的跃迁,同时以收回X射线的情势放出能量。

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X射线荧光镀层厚度剖析仪基本原理

 

因为每一种元素的原子能级构造都是特定的,它被引发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特性X射线。经由过程测定特性X射线的能量,便能够肯定响应元素的存在,而特性X射线的强弱(大概道X射线光子的若干)则代表该元素的含量。

 

镀层厚度剖析仪凭据丈量道理一样平常有以下五品种型:

1.磁性测厚法

实用导磁质料上的非导磁层厚度丈量。导磁质料一样平常为:钢、铁、银、镍。此种要领丈量精度下。

2.涡流测厚法

实用导电金属上的非导电层厚度丈量。此种要领较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法

目前国内借没有用此种要领丈量涂镀层厚度的,外洋个体厂家有如许的仪器,实用多层涂镀层厚度的丈量或则是以上两种要领皆没法丈量的场所。但一样平常价钱高贵,丈量精度也不下。

4.电解测厚法

此要领有别于以上三种,不属于无损检测,需求损坏涂镀层。一样平常精度也不下。丈量起来较其他几种麻烦。

5.放射测厚法

此种仪器价钱高贵,适用于一些特别场所。

 

通例镀层厚度剖析仪的道理

对质料外面珍爱、装潢构成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、揭层、化学天生膜等,正在有关国度和国际标准中称为覆层(coating)。覆层厚度丈量已成为加工工业、外面工程质量检测的重要一环,是产物到达劣等质量标准的必备手腕。为使产物国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明白的要求。

覆层厚度的测量方法重要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差丈量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性丈量法及涡流丈量法等。

这些要领中前五种是有损检测,丈量手腕烦琐,速度缓,多适用于抽样磨练。X射线和β射线法是无打仗无损丈量,但装配庞大高贵,丈量局限较小。果有放射源,使用者必需遵照射线防护范例。X射线法可测极薄镀层、单镀层、合金镀层。β射线法合适镀层和底材原子序号大于3的镀层丈量。电容法仅正在薄导电体的绝缘覆层测厚时接纳。

跟着手艺的日趋前进,特别是近年来引入微机手艺后,接纳磁性法和涡流法的测厚仪背微型、智能、多功能、高精度、适用化的方向进了一步。丈量的分辨率已达0.1微米,精度可到达1%,有了大幅度的进步。它适用范围广,量程宽、操纵轻便且价廉,是产业和科研运用最普遍的测厚仪器。接纳无损要领既不损坏覆层也不损坏基材,检测速度快,能使大量的检测事情经济天停止。

 

镀层厚度剖析仪丈量道理取仪器

一. 磁吸力丈量道理镀层厚度剖析仪

永久磁铁(测头)取导磁钢材之间的吸力巨细取处于那二者之间的间隔成肯定比例关系,这个间隔就是覆层的厚度。应用那一道理制成测厚仪,只要覆层取基材的导磁率之差充足大,便可停止丈量。鉴于大多数工业品接纳结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型,以是磁性测厚仪运用最广。测厚仪根基构造由磁钢,接力簧,标尺及自停机构构成。磁钢取被测物吸合后,将丈量簧正在厥后逐步拉长,拉力逐步增大。当拉力恰好大于吸力,磁钢离开的一瞬间纪录下拉力的巨细便可得到覆层厚度。新型的产物能够主动完成那一纪录历程。差别的型号有差别的量程取实用场所。这类仪器的特性是操纵轻便、结实耐用、不消电源,丈量前不必校准,价钱也较低,很合适车间做现场质量掌握。

二. 磁感到丈量道理镀层厚度剖析仪

接纳磁感到道理时,应用从测头经由非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的巨细,去测定覆层厚度。也能够测定与之对应的磁阻的巨细,去示意其覆层厚度。覆层越薄,则磁阻越大,磁通越小。应用磁感到道理的测厚仪,原则上能够有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一样平常要求基材导磁率正在500以上。若是覆层质料也有磁性,则要求取基材的导磁率之差充足大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放正在被测样本上时,仪器主动输出测试电流或测试旌旗灯号。晚期的产物接纳指针式表头,丈量感到电动势的巨细,仪器将该旌旗灯号放大厥后指导覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度赔偿等天新技术,应用磁阻去调制丈量旌旗灯号。借接纳专利设想的集成电路,引入微机,使丈量精度和重现性有了大幅度的进步(险些达一个数量级)。当代的磁感到测厚仪,分辨率到达0.1um,许可偏差达1%,量程达10mm。磁性道理测厚仪可应用来准确丈量钢铁外面的油漆层,瓷、珐琅防护层,塑料、橡胶覆层,包孕镍铬在内的种种有色金属电镀层,和化工石油待业的种种防腐涂层。

三. 电涡流丈量道理镀层厚度剖析仪

高频交换旌旗灯号正在测头线圈中发生电磁场,测头接近导体时,便正在个中构成涡流。测头离导电基体愈远,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反应做用量表征了测头取导电基体之间间隔的巨细,也就是导电基体上非导电覆层厚度的巨细。因为这类测头专门丈量非铁磁金属基材上的覆层厚度,以是一般称之为非磁性测头。非磁性测头接纳高频质料做线圈铁芯,比方铂镍合金或别的新材料。取磁感到道理对照,重要区分是测头差别,旌旗灯号的频次差别,旌旗灯号的巨细、标度干系差别。取磁感到测厚仪一样,涡流测厚仪也到达了分辨率0.1um,许可偏差1%,量程10mm的高水平。

采用电涡流道理的测厚仪,原则上对一切导电体上的非导电体覆层都可丈量,如航天航空器外面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品外面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层质料有肯定的导电性,经由过程校准一样也可测量,但要求二者的导电率之比最少相差3-5倍(如铜上镀铬)。固然钢铁基体亦为导电体,但这类义务照样接纳磁性道理丈量较为适宜。

 

镀层厚度剖析仪运用注意事项

1.仪器供电电压必需取仪器铭牌上的电压同等。仪器必需运用三线插头连到一个已接地的插座上。

2.镀层厚度剖析仪为精密仪器,发起装备高精度的稳压电源。计算机和仪器应装备不间断电源(UPS)。

3.镀层厚度剖析仪应稀奇注重取存在电磁的场所断绝开来。

4.仪器合适正在10~40℃(50~104℉)的环境温度下操做运用,正在0~50℃(32~122℉)的温度下存放。操纵和寄存的许可湿度局限正在0~65%之间(非冷凝)。正在操作过程中,环境温度和湿度应连结恒定。

5.仪器曝晒正在阳光下时温度极易超过50℃。以是请不要正在如许的情况下操做和寄存仪器,以制止高温对仪器形成损伤。

6.为制止短路,严禁仪器取液体间接打仗。若是液体进入仪器,请马上封闭仪器并正在从新运用前请技术人员周全搜检仪器。

7.镀层厚度剖析仪不克不及用于酸性情况和易爆场所。

8.不要弄脏和刮擦元素片或调校尺度片,不然会形成读数毛病。

9.不要用任何机器或化学的要领消灭元素片或调校尺度片上的污物。若是需要的话,能够用一块不起毛的布悄悄擦除脏物。

 

 

 

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深圳擅时金属电镀镀层剖析仪iEDX-150T

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接纳非真空样品腔;

专业用于金属电镀镀层剖析;

可同时剖析镀层中的合金身分比列。

多镀层,1~6层

>测试精度:0.01 um

>屡次丈量重复性偏差<0.1%

 

应用领域:

金属电镀镀层剖析范畴

技术指标:

>多镀层,1~6层

>测试精度:0.01 um

>屡次丈量重复性偏差<0.1%

>元素剖析局限从铝(Al)到铀(U)

>丈量工夫:10-60秒

>Si-PIN探测器,能量分辨率为125±5电子伏特

>微焦X射线管50KV/1mA,钨靶,焦斑尺寸 75um

>7个准直器及6个滤光片主动切换

> XYZ三维挪动平台,最大荷载为5千克

> 高清CCD摄像头,准确监控位置

>多变量非线性去卷积曲线拟合>下机能FP/MLSQ剖析

>平台挪动局限 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm

 

图谱界面:

>软件支撑无标样剖析>超大剖析平台和样品腔>集成了镀层界面和合金身分剖析界面>接纳先辈的多种光谱拟合剖析处置惩罚手艺>剖析精度可到达0.01um

 

剖析讲演效果

>间接打印剖析讲演

>讲演可转换为PDF,EXCEL和HTML花样

2017-06-15 11:31:26  阅读次数:3113
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