大阳城集团7549Y-澳门太阳城集团4488-www.x33138.com

中国仪器网

接待您: 仪器单拼网址:yiqi.com
--------------- |
官方微疑
大阳城集团7549Y

台阶仪-大阳城集团7549Y-澳门太阳城集团4488

澳门太阳城集团4488
>>>> 台阶仪
www.x33138.com
台阶仪概述

台阶仪属于打仗式外面描写丈量仪器 。凭据运用传感器的差别,打仗式台阶丈量能够分为电感式、压电式和光电式。台阶仪丈量道理是:当触针沿被测外面悄悄滑过期,因为外面有细小的峰谷使触针正在滑行的同时,还沿峰谷作高低活动。触针的活动状况便反应了外面表面的状况。传感器输出的电信号经丈量电桥后,输出取触针偏离均衡位置的位移成反比的调幅旌旗灯号。经放大取相敏整流后,可将位移旌旗灯号从调幅旌旗灯号中解调出来,获得放大了的取触针位移成反比的迟缓转变旌旗灯号。再经乐音滤波器、波度滤波器进一步滤去调制频次取外界滋扰旌旗灯号和波度等身分对粗拙度丈量的影响。台阶仪丈量精度较下、量程大、丈量效果稳固牢靠、重复性好,另外它借能够作为别的描写丈量手艺的比对。

丈量计量仪器

台阶仪产物优选

最新入驻厂商

台阶仪技术资料

台阶仪解决方案

佳构推荐
台阶仪查询前提
仪器品牌
更多品牌
产物产地
厂商性子
贩卖区域
睁开更多选项
排序体式格局
对照

  • 品牌: 美国TMI
  • 型号:
  • 产地:美国
  • 仪器简介:JohnParker’s博士发现的测试 要领,PPS接纳微处理机掌握, 能够快速,正确测试出纸张正在 印刷历程种种条件下的外面粗拙度。 试样夹正在下灵敏度测试头和特别设 计的背衬组件之间。测试气流经由过程 纸张外面阻力间接由内部盘算成粗拙度以微米为效果单元显现。 最新型的装备扩大了夹样压力局限和测试才能,双面同时测试进步了成效。大容量信息的供应为我们勤俭了工夫,最好的模仿了印刷历程,勤俭了印刷本钱。 技术参数: 测头数目:一个或两个(58-07-00-0001) 粗拙度测试局限:0.20 - 6.50m 下粗拙度测试局限:6.0 15.0m 透气度测试局限:ISO 5636/1: 0 14.5m.Pas 同等苯特森透气度测试局限:0-10000ml/min 同等葛莱透气度测试局限:1-6000s 夹样压力设定:500, 1000, and 2000kPa 夹样压力用户自定:100 5000kPa 相符尺度:ISO 8791/4 and TAPPI T555 主要特点:触摸式按键 压缩空气消灭试样外面尘土 试样感到探头 一键显现数理统计效果 内置诊断毛病顺序 内置校准顺序,可运用校准塑料片,也可运用尺度纸样 包罗校准组件 两个测试局限,能够丈量下局限粗拙度 扩大了夹样压力,更好天模仿了现实印刷体式格局 同时测试试样双面粗拙度或同时测试粗拙度和透气度(仅限双测头型号)

对照

  • 品牌: 日本小坂
  • 型号: ET4000
  • 产地:日本
  • 仪器简介:Excellent in accuracy, stability and functionality, ET4000 is a fully automatic, most appropriate for measurement of micro figure, step height and roughness of FPD, wafers, hard disks, and other nano-order application. ET4000 series can be selected from a number of models according to applications. ET4000A: Multifunctional and automatic ET4000L: Fully automatic, compatible with large precision glass or wafer size sample ET4000M: Reasonable, high performance and general-use技术参数:Max. sample size 210 × 210 mm to 300 × 400 mm Repeatability 1 σ within 0.5 nm Measuring range Z: 100 μm X: 100 mm (Y stroke: 150 to 400 mm) Resolution Z: 0.1 nm X: 0.01 μm Measuring force 0.5 μN to 500 μN主要特点:Excellent in accuracy, stability and functionality, ET4000 is a fully automatic, most appropriate for measurement of micro figure, step height and roughness of FPD, wafers, hard disks, and other nano-order application. ET4000 series can be selected from a number of models according to applications. ET4000A: Multifunctional and automatic ET4000L: Fully automatic, compatible with large precision glass or wafer size sample ET4000M: Reasonable, high performance and general-use

对照

  • 品牌: 日本小坂
  • 型号: SE500
  • 产地:日本
  • 仪器简介:SE500是先辈的,松散设想和下机能的粗拙度、波纹度和台阶测量仪。 兼容种种参数和实行的多个尺度同时剖析。 以知足一切应用程序的优异可扩大单元 便携级机型中最长的驱动局限和直线度 带有开关控制器的集成触摸面板 更宽幅的打印纸 可以或许和种种运用兼容的组合技术参数:尺度 JIS(2001/94/82),DIN,ISO,ASME 丈量局限 Z:800μm X: 55 mm 最小分辨率 0.08nm 丈量倍率 Z: 50-200,000 or Auto X: 1-1000 or Auto 丈量速度 0.05-2 mm/s 构成 7 种型号,从便携式范例到流动范例主要特点: 便携级机型中最长的驱动局限和直线度 带有开关控制器的集成触摸面板 更宽幅的打印纸 可以或许和种种运用兼容的组合

对照

  • 品牌: 德国LT
  • 型号: EK130
  • 产地:德国
  • 接纳经特别处置惩罚的铝和花岗岩材质, EK130气浮扭转台接纳氛围静压轴承设想,LT气浮转台知足齐心轴向径向操纵的最高要求, LT公司的气浮扭转台规格: 尺度直径60毫米,100毫米或150毫米气浮转台内孔可选。转台应用水冷却设想,使各款气浮扭转台不只耐用,并且具有热稳定性。 EK130气浮扭转台可经由过程一个下转速(> 150转)和低于0.1弧秒的绝对精度联合实现超周详丈量。这些丈量单位的应用领域一般触及内,中直径丈量,并且作为一个超周详机床附加旋转轴。工件能够准确天流动到不锈钢支持板,大概经由过程真空吸附流动。

对照

  • 品牌: 日本KOSAKA
  • 型号: ET150
  • 产地:日本
  • KOSAKA LAB ET 150台阶仪装备特性: KOSAKA ET150基于Windows XP操作系统为多种差别外面供应周全的描写剖析,包孕半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工外面、生物医学器件、薄膜/化学涂层和平板显现等。运用金刚石(钻石)打仗丈量的体式格局去实现高精度外面描写剖析运用。ET150能准确牢靠天丈量出外面台阶描写、粗拙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种外面描写技术参数。 ET 150装备了各种型号,供应了经由过程程序控制打仗力和垂直局限的探头,彩色CCD原位采集设想,可间接观察到事情时的状况,更轻易正确的定位测试地区。 规格 一、定工件: 1. 最大工件尺寸:φ160mm 2. 最大工件薄:50mm 3. 最大工件重量:2kg二、出器(pick up): 1. Z偏向定:Max. 600μm 2. Z偏向剖析能:0.1nm 3. 定:min.1mgf,max.50mg 4. 半:2 μm 5. 体式格局:曲式 6. 再性:1σ= 1nm三、X (基): 1. 挪动量(最大):100mm 2. 移的实曲:0.2μm/100mm 3. 移,定速:0.02 ~ 10mm/s 4. 性尺(linar scale):剖析能 0.1μm四、Z: 1. 挪动量:50mm 2. 移速度:max.2mm/S 3. 出器自住手能 4. 位置定剖析能:0.2μm五、工件台: 1. 工件台尺寸:160mm 2. 械脚倾斜: 1mm/150mm六、工件察:max.110 倍(可别的高倍CCD)七、床台:材花岩石八、防振台():天型或桌上型九、源:AC100V±10%, 50/60HZ, 300VA十、本中尺寸及重量: W494mm;D458mm;H610mm, 120kg (露防震台)

对照

  • 品牌: 美国Rtec
  • 型号: UP-DUAL MODE
  • 产地:美国
  • 美国Rtec双模式台阶仪特性:一台装备上集成非打仗式白光过问描写仪+高精度原子力显微镜白光过问白光过问可以或许停止高分辨率图象的扫描,对外面停止剖析。两种事情形式-相移和白光扫描形式,可以或许高精度丈量粗拙大概润滑的样品外面。 最好的手艺去实现下Z背分辨率 白光过问法和相移两种形式实现Z偏向的高分辨率。 快速图象处置惩罚体系到达400万像素 四色LED相机 更大的垂直丈量局限达10毫米 150 mmx150mm马达掌握平台。 样品粗拙度,粗拙外面高度抛光后的光洁度和外面构造丈量,如陶瓷、塑料和辊钢。 SPIP专业数据剖析软件原子力显微镜探针式表面丈量可以或许停止质料正在纳米标准程度的测试。供应扫描局限70 x70um,探针改换简朴。 最好的手艺去实现Z和XY方向上的高分辨率 X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。 线性XY压电陶瓷扫描 包孕振动和不振动的形式 可选的侧向力和相位模成像

对照

  • 品牌: 美国Rtec
  • 型号: UP-Dual
  • 产地:美国
  • 美国Rtec台阶仪特性:一台装备上集成非打仗式白光过问描写仪+高精度原子力显微镜白光过问白光过问可以或许停止高分辨率图象的扫描,对外面停止剖析。两种事情形式-相移和白光扫描形式,可以或许高精度丈量粗拙大概润滑的样品外面。 最好的手艺去实现下Z背分辨率 白光过问法和相移两种形式实现Z偏向的高分辨率。 快速图象处置惩罚体系到达400万像素 四色LED相机 更大的垂直丈量局限达10毫米 150 mmx150mm马达掌握平台。 样品粗拙度,粗拙外面高度抛光后的光洁度和外面构造丈量,如陶瓷、塑料和辊钢。 SPIP专业数据剖析软件原子力显微镜探针式表面丈量可以或许停止质料正在纳米标准程度的测试。供应扫描局限70 x70um,探针改换简朴。 最好的手艺去实现Z和XY方向上的高分辨率 X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。 线性XY压电陶瓷扫描 包孕振动和不振动的形式 可选的侧向力和相位模成像

对照

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap-LS(3)
  • 产地:美国
  • 台阶仪, NanoMap-LS 打仗式三维外面台阶仪NanoMap-LS 探针打仗式 台阶仪特性:探针台阶仪是应用探针扫描样品外面,仪器纪录探针随样品外面上下升沉状况,整合数据获得台阶高度,外面描写,沟槽深度等特性。双模式操纵(针尖扫描和样品台扫描)针尖扫描接纳准确的压电陶瓷驱动扫描形式,三维扫描局限从150mm X 150m样品台扫描扫描局限到100mm纳米级抛光光学参考仄晶及时彩色光学照相机间接观察单光学传感器 纵向丈量局限最大至1000um,最小到分辨率0.1nm恒定微力打仗 最小0.03mg简朴友爱的人机操纵界面运用台阶仪重要运用正在金属材料、生物质料、聚合物质料、陶瓷材料等种种质料外面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗拙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗拙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(直定量率半径法)等定量丈量。挣脱了以往只能获得二维信息,或三维信息过于粗拙的近况。三维外面表面丈量和粗拙度丈量,即适用于周详抛光的光学外面也可适用于质地粗拙的机加工零件。薄膜和薄膜的台阶高度丈量划痕描写,磨损深度、宽度和体积定量丈量空间剖析和外面纹理表征平面度和曲率丈量二维薄膜应力丈量微电子外面剖析和MEMS表征外面质量和缺点检测情况要求湿度:10-80%, 相对湿度,无冷凝温度:65-85 华氏度(△T<1度/小时)电源要求:110/240V,50/60 Hz关键词:台阶仪、描写仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维外面台阶仪、三维台阶仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜剖析仪、三维描写仪、三维粗拙度仪、外面台阶仪、

对照

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: Nanomap-LS
  • 产地:美国
  • 台阶仪, NanoMap-LS打仗式三维外面台阶仪NanoMap-LSNanoMap -LS探针打仗式 台阶仪特性探针台阶仪是应用探针扫描样品外面,仪器纪录探针随样品外面上下升沉状况,整合数据获得台阶高度,外面描写,沟槽深度等特性。双模式操纵(针尖扫描和样品台扫描),纵然正在长程丈量时也能够获得最优化的小区域三维测图针尖扫描接纳准确的压电陶瓷驱动扫描形式,三维扫描局限从150mm X 150m 。样品台扫描运用初级别光学参考平台能使长程扫描局限到50mm。打仗式探针台阶仪正在扫描历程中联合彩色光学照相机可对样品间接视察针尖扫描接纳单光学传感器,具有宽广丈量静态局限(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm )软件设置恒定微力打仗简朴的2步要害操纵,友爱的软件操纵界面、运用台阶仪重要运用正在金属材料、生物质料、聚合物质料、陶瓷材料等种种质料外面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗拙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗拙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(直定量率半径法)等定量丈量。挣脱了以往只能获得二维信息,或三维信息过于粗拙的近况。将台阶仪带入了另一个高精度丈量的新时期。三维外面表面丈量和粗拙度丈量,即适用于周详抛光的光学外面也可适用于质地粗拙的机加工零件。薄膜和薄膜的台阶高度丈量划痕描写,磨损深度、宽度和体积定量丈量空间剖析和外面纹理表征平面度和曲率丈量二维薄膜应力丈量微电子外面剖析和MEMS表征外面质量和缺点检测情况要求湿度:10-80%, 相对湿度,无冷凝温度:65-85 华氏度(△T<1度/小时)电源要求:110/240V,50/60 Hz手艺规格尺度样品 台阶高度尺度样品(NIST认证) 100um体系 光学照相机视场局限 1.5 X 1.5mm光学照明 软件掌握暗场和明场电脑 Pentium IV, USB2.0连接操作系统 Win XP体系动力需求 90-240V,350W空间尺寸 20宽X 22少 X 25下重量 160lb 关键词:台阶仪、描写仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维外面台阶仪、三维台阶仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜剖析仪、三维描写仪、三维粗拙度仪、外面台阶仪、

对照

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap­D(2)
  • 产地:美国
  • NanoMap-D 台阶仪NanoMap-D三维台阶仪是用于外面构造丈量和外面描写剖析的一款丈量计量型装备。既能够用于科学研究,也能够用于工业产品的检测。该款仪器能够看作是外面研讨的万用表,接纳打仗式和非打仗式功用集于一身的设想特性,补充两种形式的范围,施展外面描写仪的丈量极限。光学非打仗式有速度快,间接三维成象,不损坏样品等特性。探针打仗形式方便快捷,造样简朴,丈量质料普遍。两种形式相结合能够对更多外形、性状、材质的试样停止外面描写的研讨。台阶仪别名三维外面描写或轮廓仪重要运用正在金属材料、生物质料、聚合物质料、陶瓷材料等种种质料外面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗拙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗拙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(直定量率半径法)等定量丈量。挣脱了以往只能获得二维信息,或三维信息过于粗拙的近况。将轮廓仪带入了另一个高精度丈量的新时期。NanoMap-D台阶仪丈量外面能够掩盖90%以上质料外面。装备传感器精度下,稳定性好,质料运用里广。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.01 nm ( phase-shift mode) 可测跨学科、跨范畴的种种样品外面,包孕通明、金属材料,半透明、下漫反射,低反射率、抛光、粗拙质料(金属、玻璃、木头、分解质料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);1、三维外面构造:粗拙度,波纹度,外面构造,缺点剖析,晶粒剖析等2、二维图象剖析:间隔,半径,斜坡,格子图, 表面线等3、表界面丈量:通明外面描写,薄膜厚度,通明薄膜下的外面4、薄膜和薄膜的台阶高度丈量5、划痕描写,摩擦磨损深度、宽度和体积定量丈量6、微电子外面剖析和MEMS表征NanoMap-D台阶仪的主要特点:高精度卓着的纵向分辨率:0.1 nm ( 打仗式);2 nm(光学非打仗式)对周围环境和光源的强适应性没有机器过滤宽广的垂直丈量局限多种挑选光学头及打仗式纵向扫描局限 300 to 3900 μm图象“缝合”手艺使再大的外面也能显现正在一幅图象内试用于险些所有的外面通明,不透明,反射光强等多种质料垂直台阶,高宽深比,隆起,孔洞脆性的质料,软材料,柔性质料外面锋利的,坚固的,磨损的外面适应性强白光光源,人体平安设想,少寿命白光LED 免保护。能够用于种种情况的实验室,以至工业生产情况。打仗式轮廓仪和非打仗式轮廓仪手艺的完善联合打仗式轮廓仪针尖扫描接纳准确的压电陶瓷驱动扫描形式,三维扫描局限从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描运用初级别光学参考平台能使长程扫描局限到50mm。正在扫描历程中联合彩色光学照相机可对样品间接视察针尖扫描接纳单光学传感器,同时具有宽广丈量静态局限联系方式:aep Technology电话:+86-010-68187909传真:+86-010-68187909手机:+86-15611184708何先生公司网址:www.aeptechnolongy.com.cn 关键词:台阶仪、描写仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维外面台阶仪、三维台阶仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜剖析仪、三维描写仪、三维粗拙度仪、外面台阶仪、外面台阶仪、关键词:轮廓仪、描写仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维外面轮廓仪、三维轮廓仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜剖析仪、三维描写仪、三维粗拙度仪、外面轮廓仪、外面台阶仪、薄膜剖析仪、外面描写仪、外面粗拙度仪、非打仗式轮廓仪、非打仗式台阶仪、非打仗式外面描写仪、非打仗式外面粗拙度仪、打仗式轮廓仪、打仗式台阶仪、打仗式外面描写仪、打仗式外面粗拙度仪、探针式轮廓仪、探针式台阶仪、探针式外面描写仪、探针式外面粗拙度仪、双模式轮廓仪、双模式台阶仪、双模式外面描写仪、双模式外面粗拙度仪、三维外面轮廓仪、三维外面台阶仪、三维外面描写仪、三维外面粗拙度仪

对照

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap-500LS
  • 产地:美国
  • 台阶仪NanoMap-500LS打仗式三维外面台阶仪NanoMap-500LSNanoMap 500LS探针三维台阶仪特性 通例的探针台阶仪和扫描探针显微镜手艺的完善联合 双模式操纵(针尖扫描和样品台扫描),纵然正在长程丈量时也能够获得最优化的小区域三维测图 针尖扫描接纳准确的压电陶瓷驱动扫描形式,三维扫描局限从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描运用初级别光学参考平台能使长程扫描局限到50mm。 打仗式探针台阶仪正在扫描历程中联合彩色光学照相机可对样品间接视察 针尖扫描接纳单光学传感器,同时具有宽广丈量静态局限(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm ) 软件设置恒定微力打仗 简朴的2步要害操纵,友爱的软件操纵界面运用三维外面描写/台阶仪重要运用正在金属材料、生物质料、聚合物质料、陶瓷材料等种种质料外面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗拙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗拙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(直定量率半径法)等定量丈量。挣脱了以往只能获得二维信息,或三维信息过于粗拙的近况。将台阶仪带入了另一个高精度丈量的新时期。三维外面表面丈量和粗拙度丈量,即适用于周详抛光的光学外面也可适用于质地粗拙的机加工零件。薄膜和薄膜的台阶高度丈量划痕描写,磨损深度、宽度和体积定量丈量空间剖析和外面纹理表征平面度和曲率丈量二维薄膜应力丈量微电子外面剖析和MEMS表征外面质量和缺点检测情况要求湿度:10-80%, 相对湿度,无冷凝温度:65-85 华氏度(△T<1度/小时)电源要求:110/240V,50/60 Hz手艺规格尺度样品 台阶高度尺度样品(NIST认证) 100μm体系 光学照相机视场局限 1.5 X 1.5mm光学照明 软件掌握暗场和明场电脑 Pentium IV, USB2.0连接操作系统 Win XP体系动力需求 90-240V,350W空间尺寸 20’’ 宽X 22’’少 X 25’’下重量 160lb联系方式:aep Technology电话:+86-010-68187909传真:+86-010-68187909手机:+86-15611184708何先生公司网址:www.aeptechnolongy.com.cn

对照

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap-D(2)
  • 产地:美国
  • 台阶仪NanoMap-D是一款兼备了白光过问非打仗式和探针打仗式的台阶仪。NanoMap-D三维台阶仪是用于外面构造丈量和外面描写剖析的一款丈量计量型装备。既能够用于科学研究,也能够用于工业产品的检测。该款仪器能够看作是外面研讨的万用表,接纳打仗式和非打仗式功用集于一身的设想特性,补充两种形式的范围,施展外面描写仪的丈量极限。光学非打仗式有速度快,间接三维成象,不损坏样品等特性。探针打仗形式方便快捷,造样简朴,丈量质料普遍。两种形式相结合能够对更多外形、性状、材质的试样停止外面描写的研讨。台阶仪,重要运用正在金属材料、生物质料、聚合物质料、陶瓷材料等种种质料外面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗拙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗拙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(直定量率半径法)等定量丈量。挣脱了以往只能获得二维信息,或三维信息过于粗拙的近况。将轮廓仪带入了另一个高精度丈量的新时期。丈量外面能够掩盖90%以上质料外面。装备传感器精度下,稳定性好,质料运用里广。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.01 nm ( phase-shift mode) 可测跨学科、跨范畴的种种样品外面,包孕通明、金属材料,半透明、下漫反射,低反射率、抛光、粗拙质料(金属、玻璃、木头、分解质料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);1、三维外面构造:粗拙度,波纹度,外面构造,缺点剖析,晶粒剖析等2、二维图象剖析:间隔,半径,斜坡,格子图, 表面线等3、表界面丈量:通明外面描写,薄膜厚度,通明薄膜下的外面4、薄膜和薄膜的台阶高度丈量5、划痕描写,摩擦磨损深度、宽度和体积定量丈量6、微电子外面剖析和MEMS表征改款台阶仪 的主要特点:高精度 卓着的纵向分辨率:0.1 nm ( 打仗式);2 nm(光学非打仗式) 对周围环境和光源的强适应性 没有机器过滤宽广的垂直丈量局限 多种挑选光学头及打仗式 纵向扫描局限 300 to 3900 μm 图象“缝合”手艺使再大的外面也能显现正在一幅图象内试用于险些所有的外面 通明,不透明,反射光强等多种质料 垂直台阶,高宽深比,隆起,孔洞 脆性的质料,软材料,柔性质料外面 锋利的,坚固的,磨损的外面适应性强 白光光源,人体平安设想,少寿命白光LED 免保护。能够用于种种情况的实验室,以至工业生产情况。 打仗式轮廓仪和非打仗式轮廓仪手艺的完善联合 打仗式轮廓仪针尖扫描接纳准确的压电陶瓷驱动扫描形式,三维扫描局限从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描运用初级别光学参考平台能使长程扫描局限到50mm。 正在扫描历程中联合彩色光学照相机可对样品间接视察 针尖扫描接纳单光学传感器,同时具有宽广丈量静态局限联系方式:aep Technology电话:+86-010-68187909传真:+86-010-68187909手机:+86-15611184708何先生公司网址:www.aeptechnolongy.com.cn关键词:轮廓仪、描写仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维外面轮廓仪、三维轮廓仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜剖析仪、三维描写仪、三维粗拙度仪、外面轮廓仪、外面台阶仪、薄膜剖析仪、外面描写仪、外面粗拙度仪、非打仗式轮廓仪、非打仗式台阶仪、非打仗式外面描写仪、非打仗式外面粗拙度仪、打仗式轮廓仪、打仗式台阶仪、打仗式外面描写仪、打仗式外面粗拙度仪、探针式轮廓仪、探针式台阶仪、探针式外面描写仪、探针式外面粗拙度仪、双模式轮廓仪、双模式台阶仪、双模式外面描写仪、双模式外面粗拙度仪、三维外面轮廓仪、三维外面台阶仪、三维外面描写仪、三维外面粗拙度仪

对照

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap
  • 产地:美国
  • 台阶仪NanoMap-500LSNanoMap 500LS台阶仪特性 该款台阶仪是通例的打仗式轮廓仪和扫描探针显微镜手艺的完善联合 双模式操纵(针尖扫描和样品台扫描),纵然正在长程丈量时也能够获得最优化的小区域三维测图 针尖扫描接纳准确的压电陶瓷驱动扫描形式,三维扫描局限从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描运用初级别光学参考平台能使长程扫描局限到50mm。 正在扫描历程中联合彩色光学照相机可对样品间接视察 针尖扫描接纳单光学传感器,同时具有宽广丈量静态局限(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm ) 软件设置恒定微力打仗 简朴的2步要害操纵,友爱的软件操纵界面运用台阶仪重要运用正在金属材料、生物质料、聚合物质料、陶瓷材料等种种质料外面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗拙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗拙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(直定量率半径法)等定量丈量。挣脱了以往只能获得二维信息,或三维信息过于粗拙的近况。将轮廓仪带入了另一个高精度丈量的新时期。三维外面表面丈量和粗拙度丈量,即适用于周详抛光的光学外面也可适用于质地粗拙的机加工零件。薄膜和薄膜的台阶高度丈量划痕描写,磨损深度、宽度和体积定量丈量空间剖析和外面纹理表征平面度和曲率丈量二维薄膜应力丈量微电子外面剖析和MEMS表征外面质量和缺点检测情况要求湿度:10-80%, 相对湿度,无冷凝温度:65-85 华氏度(△T<1度/小时)电源要求:110/240V,50/60 Hz手艺规格范例 项目 规格综述 小局限XY扫描头,供应下精确度XY平台扫描,供应大标准丈量带亮场和暗场的齐时彩色CCD照相机软件掌握触针丈量力,局限 0.1-100mg触针针尖半径选件 2μm,5 μm,12.5 μm和25 μm,0.1-0.8μm可选针尖扫描(Piezo扫描器) 台阶高度重现性 0.6nm垂直分辨率 0.1nm丈量高度邃密局限 5μm丈量高度大略局限 0.5mmXY扫描分辨率 0.1μmXY扫描定位重现性 0.2μm扫描速度 10-50μm/sec扫描局限 10-500μm每次扫描数据点 100-1000数据点最多至110000数据点样品台扫描 XY样品地区 100mm X 100mm, 150mm安装间隙XY平台活动局限 100mm X 100mm(150mm X 150mm)XY平台定位重现性 5μm,2μm可选最大扫描长度 50mm扫描速度 0.1-5mm/secZ平台局限 55mm最大样品高度 50mm手动扭转平台局限 360度手动倾斜平台局限 ±2度尺度样品 台阶高度尺度样品(NIST认证) 100μm体系 光学照相机视场局限 1.5 X 1.5mm光学照明 软件掌握暗场和明场电脑 Pentium IV, USB2.0连接操作系统 Win XP体系动力需求 90-240V,350W空间尺寸 20’’ 宽X 22’’少 X 25’’下重量 160lb联系方式:aep Technology电话:+86-010-68187909传真:+86-010-68187909手机:+86-15611184708何先生公司网址:www.aeptechnolongy.com.cn关键词:轮廓仪、描写仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维外面轮廓仪、三维轮廓仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜剖析仪、三维描写仪、三维粗拙度仪、外面轮廓仪、外面台阶仪、薄膜剖析仪、外面描写仪、外面粗拙度仪、非打仗式轮廓仪、非打仗式台阶仪、非打仗式外面描写仪、非打仗式外面粗拙度仪、打仗式轮廓仪、打仗式台阶仪、打仗式外面描写仪、打仗式外面粗拙度仪、探针式轮廓仪、探针式台阶仪、探针式外面描写仪、探针式外面粗拙度仪、双模式轮廓仪、双模式台阶仪、双模式外面描写仪、双模式外面粗拙度仪、三维外面轮廓仪、三维外面台阶仪、三维外面描写仪、三维外面粗拙度仪

对照

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap-PS
  • 产地:美国
  • 台阶仪 厚度47nm 尺度样品,三次反复丈量效果叠加 (无任何加噪批改,原始数据输出) 500um扫描, 2um探针NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜丈量研发的无需防震台便可丈量的打仗式台阶仪 AFM同款位移传感器,超高精度 压电陶瓷驱动扫描,绝对无内源振动 自集成自动反应式防震体系 真正无需分外辅佐防震体系,实现下重复性纳米丈量 纳米量级科学研究的必备产物NanoMap-PS台阶仪能够运用正在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等范畴的薄膜厚度,台阶高度,粗拙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(直定量率半径法)等定量丈量方面。其高精度,下重复性,主动探究样品外面,主动丈量深受广大客户接待。丈量外面能够掩盖多种质料外面:金属材料、陶瓷材料、生物质料、聚合物质料等等,关于动物外面,生物质料,聚合物外面,光刻胶等“柔嫩外面”也可测量不必忧郁划伤或损坏。装备传感器精度下,稳定性好。热噪声是同类产品最低的。垂直分辨率可达0.1nm 。 可测外面,包孕通明、金属材料,半透明、下漫反射,低反射率、抛光、粗拙质料,金属、玻璃、木头、分解质料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等;AEP的手艺一日千里。 欲相识最新的产物性能参数,请取我们联络。主要参数: 垂直分辨率 0.1nm垂直最大量程 1000um探针打仗力 0.03mg-100mg平台局限 直径150毫米(可选200毫米或更大)高清图象 4级放大,彩色CCD成像光源 单少寿命强光LED金刚石探针 0.5um 到 25um 可选电话:+86-010-68187909传真:+86-010-68187909手机:+86-15611184708何先生公司网址:www.aeptechnolongy.com.cn关键词:轮廓仪、描写仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维外面轮廓仪、三维轮廓仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜剖析仪、三维描写仪、三维粗拙度仪、外面轮廓仪、外面台阶仪、薄膜剖析仪、外面描写仪、外面粗拙度仪、非打仗式轮廓仪、非打仗式台阶仪、非打仗式外面描写仪、非打仗式外面粗拙度仪、打仗式轮廓仪、打仗式台阶仪、打仗式外面描写仪、打仗式外面粗拙度仪、探针式轮廓仪、探针式台阶仪、探针式外面描写仪、探针式外面粗拙度仪、双模式轮廓仪、双模式台阶仪、双模式外面描写仪、双模式外面粗拙度仪、三维外面轮廓仪、三维外面台阶仪、三维外面描写仪、三维外面粗拙度仪维外面描写仪、三维外面粗拙度仪 stulye profiler,台阶仪,台阶仪,台阶仪,台阶仪,台阶仪,台阶仪,台阶仪,台阶仪,台阶仪,bruker,Daktek,Veeco,Dektak XT,Ambios, KLA-Tencor,D-100,D-120,ST-100,ST-200,ST-300,XP-1/XP-2;XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300;α-step IQ(100,200,250,500);α-step P6;α-step P16+(P1,P2,P10,P11,P11,P15);α-step P16+0F; KLA-Tencor公司光学轮廓仪(白光干涉仪/ 移相关涉仪);MicroXam 100;MicroXam 1200

对照

  • 品牌: 美国AEP Technology
  • 型号: NanoMap
  • 产地:美国
  • 仪器简介: 该体系应用扫描探针显微镜光杠杆位移检测手艺和超平整参照里-大型样品台扫描手艺,并取压电陶瓷(PZT)扫描完善联合,能够再不损失精度的状况下,即获得超大样品整体三维表面图,又显现部分三维描写像。个中样品台扫描参考平面运用超高平展度光学抛光平台,有用处理了以往样品台扫面,因为丝杠公役引发的测试效果有亚微米量级的偏差。 三维外面描写/轮廓仪重要运用正在金属材料、生物质料、聚合物质料、陶瓷材料等种种质料外面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗拙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗拙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(直定量率半径法)等定量丈量。挣脱了以往只能获得二维信息,或三维信息过于粗拙的近况。将轮廓仪带入了另一个高精度丈量的新时期。 主要特点: 1、通例的打仗式轮廓仪和扫描探针显微镜手艺的完善联合 2、双模式操纵(针尖扫描和样品台扫描),纵然正在长程丈量时也能够获得最优化的小区域三维测图 3、针尖扫描接纳准确的压电陶瓷驱动扫描形式,三维扫描局限从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描运用初级别光学参考平台能使长程扫描局限到50mm。 4、正在扫描历程中联合彩色光学照相机可对样品间接视察 5、针尖扫描接纳单光学传感器,同时具有宽广丈量静态局限(最大至500μm)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm ) 6、软件设置恒定微力打仗 7、简朴的2步要害操纵,友爱的软件操纵界面

对照

  • 品牌: 德国BMT
  • 型号: LMT
  • 产地:德国
  • 德国BMT LMT密封轴导程丈量体系 导程构造是密封轴正在加工过程中进给方向上发生的细小的相似罗纹的构造。现在只要疾驰公司对此参数停止检测。 导程丈量处理的是轴的密封外面题目。次装备对致使漏油的不良导程构造停止丈量和搜检。 相符Mercedes-Bens MBN 31007-7尺度。运用案例● 圆柱型杆轴密封区的检测● 密封机能的搜检检测● 密封轴构造的检测和评价产物特性● 专为检测车间空中而设想● 能够检测到最小的铅构造● 纵向的工件夹具,越发勤俭空间● 工件主动扭转● 电动化的丈量头● 主动对测得的数值停止评价● 能够准确盘算一切取密封轴的相干参数● 摆动主动赔偿装配技术参数丈量头● 丈量局限[μm]:±250● 分辨率[nm]:10● 针尖半径[μm]:2扭转台● 扭转角[°]:360● 最小分辨率[°]:0.01主动触针驱动单位● X 轴向[mm]:20● Z 轴向[mm]:4

对照

  • 品牌: 德国BMT
  • 型号: CMM
  • 产地:德国
  • 德国BMT CMM 粗拙度丈量体系用于CMM探针的小型的粗拙度测量仪,可大幅度天低落丈量本钱。 技术参数ISO 3274参考尺度体系精确度品级1丈量道理针头、丈量头参考尺度数据泉源平板玻璃精确度1 %测量误差0.5 %可测量长度12.5 mm针尖角度90°参数ISO, DIN 13565描写、蜿蜒度、粗拙度ISO, DIN 15565中心粗拙度JIS B-0601粗拙度Daimler N 31007R3z过滤器Gauss, M50, M75, VDA2008数据导出USB, QDAS充电正在胶卷盒中丈量头尺寸49 mm x 24 mm x 34mm

对照

  • 品牌: 日本三歉
  • 型号: SJ-401
  • 产地:日本
  • 专长 ■ 於鼻撬之,於外面螺、微段差曲面形的量都不倒它。 ■ 若搭DAT能,可化程度做使之越发轻易。 ■ 运用高精度部+下剖析能出器,可超高精度之量。 ■ 有富的,且可各的粗度格。 ■ 用控式大型液晶幕,下操作性。 日本三歉粗拙度仪SJ-401技术参数: 公制型 型号: SJ-401 测力: 0.75mN 平移局限: 25mm 丈量局限: 800um,80um,8um(最大2400um,包孕可选探针) 检测器 测头:178-395/178-390 检测体式格局:无轨/有轨丈量 针尖:钻石、60°/90°(针尖半径2um/5um) 评价表面 探针管壳:可选择有轨/无轨 P,R,W(波形表面滤波)、DIN4776,MOTIF(R,W) 评价参数 Ra,Ry,Rz,Rq, Pc,R3z,mr, Rt,Rp,Rv,Sm,S,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2, Lo,Ppi,R,AR,Rx,Ku,HSC,mrd,Sk,W,AW,Wte,Wx,Vo 剖析图表:BAC,ADC 统计数据: 最大值、最小值、平均值、标准偏差(S)、次品率、柱状图 数字滤波: 2CR,PC75(phase corrected),Gauss 取样长度(L): 0.08,0.25,0.8,2.5,8mm 显现: 液晶显示 打印机(内置): 热敏止式打印机 纪录倍率: 垂直:10-100K倍率,主动 程度:1-1K倍率,主动 数据输出: 经由过程RS-232接口/SPC数据输出 电源: 经由过程AC适配器/电池(充电) 尺寸(W*D*H) 掌握装配:307*165*94mm 高度-倾斜调解装配:131*63*99mm 重量: 掌握装配:约:1.2kg 高度-倾斜调解装配:0.4kg 英制/公制型 测力: 0.75mN 断面局限: 1″(25mm) 丈量局限: 3200uinch,3200uinch,320uinch(15000uinch以下带有一个可选探针) 取样长度: .003″,.01″.03″.1″,.3″ 选购件 SJ-401选件 货号: 178-009? 称号: 手动圆柱台 货号: 12AAB358 称号: 圆柱附件 货号: 178-048 称号: 用于数隐工作台调解的调水仄工作台(公制型) 货号: 178-058 称号: 用于数隐工作台调解的调水仄工作台(英制/公制型) 货号: 178-043-1 称号: XY调水仄工作台(XY工作台:25*25mm) 货号: 178-053-1 称号: XY调水仄工作台(XY工作台:1″*1″) 货号: 178-042-1 称号: 数隐XY调水仄工作台(XY局限:25*25mm) 货号: 178-052-1 称号: 数隐XY调水仄工作台(XY局限:1″*1″) 货号: 178-049 称号: 数隐XY调水仄工作台(XY局限:25*25mm) 货号: 178-059 称号: 数隐XY调水仄工作台(XY局限:1″*1″) 货号: 178-019 称号: 周详卡钳 货号: 178-016 称号: 调水仄工作台 货号: 181-902 称号: 带夹钳的V型块 货号: 178-610 称号: 阶差榜样 货号: 178-611 称号: 阶差榜样(公制型) 货号: 178-612 称号: 阶差榜样(英制型) 货号: 12BAA781 称号: 携带型 货号: 12AAA841 称号: 影象卡(8MB) 货号: 12AAA882 称号: PC衔接电缆(RS-232) 货号: 936937 称号: SPC电缆(1m) 货号: 965014 称号: SPC电缆(2m) 货号: 264-005 称号: 输入东西 货号: 264-504 称号: DP-1VR

对照

  • 品牌: 日本三歉
  • 型号: SJ-310 178-570-01DC-澳门太阳城集团4488
  • 产地:日本
  • 日本三歉外面粗拙度仪SJ-310各的粗度格示意。大型LCD幕窗,易於清楚与。运用控式面板(具抗污性),操纵易。恣意度定能。按PRINT便可藉由藏式印表列印出量之果(可不同之列印体式格局)。藏充池,本轻易也可收置出器。有富的:自校订能、理、合可判断能、客自行能判断能。型号SJ-310货号平移局限12.5MM丈量局限300um(±150um)驱动/检测元件探测仪:178-390/178-395*测头:金刚石(测头半径:5um/2um*)丈量力:4mN/0.75mN*探测体式格局:微感到评定表面P,R,DIN4776 profile,Motif预计参数Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Rv,Sm,S,Pc,R3z,mr,δc,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,Lo,R,AR,Rx, A1,A2取样长度0.25,0.8,2.5,8mm显现LCD触摸式面板打印机热敏型放大倍数主动数据输出主动电源经由过程适配器/电池可充电

对照

  • 品牌: 德国布鲁克
  • 型号: DektakXT
  • 产地:德国
  • 布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式外面轮廓仪)是一项立异性的设想,能够供应更高的重复性和分辨率,丈量重复性能够到达5?。台阶仪这项机能的进步到达了已往四十年Dektak技术创新的高峰,越发稳固了其行业抢先职位。岂论应用于研发照样产物丈量,经由过程正在研究工作中的普遍运用,DektakXT一定能够做到功用更壮大,操纵更浅易,检测历程和数据采集更完美。第十代DektakXT台阶仪(探针式外面轮廓仪)的手艺打破,使纳米标准的外面表面丈量成为能够,从而能够普遍的应用于微电子器件,半导体,电池,下亮度发光二极管的研发和材料科学范畴。

台阶仪招标信息

对照栏隐蔽对照栏已满,您能够删除不需要的栏内商品再继承增加!
您借能够继承增加
您借能够继承增加
您借能够继承增加
您借能够继承增加
您借能够继承增加
台阶仪 中国仪器网台阶仪产物导购专场为您供应台阶仪功用道理、规格型号、性能参数、产品价格、具体产品图片和厂商联系方式等实用信息,您能够经由过程设置差别查询前提,挑选知足您现实需求的台阶仪产物,同时台阶仪产物导购专场借为您供应佳构优选台阶仪产物和台阶仪相干技术资料、解决方案、招标采购等综合信息。